局部放電測試系統(tǒng)開機(jī)與預(yù)熱

1. 將時基顯示方式開關(guān)置于“橢圓”位置

2. 儀器應(yīng)有不小于5分鐘的預(yù)熱時間，以保證穩(wěn)定性

3. 儀器應(yīng)良好防護(hù)，避免陽光直射，遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場源

系統(tǒng)校準(zhǔn)

校準(zhǔn)是確保測量準(zhǔn)確性的關(guān)鍵步驟

1. 接線：按試驗(yàn)回路圖接好線后，在未施加試驗(yàn)電壓之前，將校正脈沖發(fā)生器的輸出端接至試品兩端（紅端子引線接試品高壓端）

2. 注入校準(zhǔn)脈沖：向試品注入已知電荷量（如50pC、100pC、200pC）的方波脈沖

3. 調(diào)節(jié)增益：調(diào)節(jié)放大器粗調(diào)和細(xì)調(diào)旋鈕，使注入脈沖在示波屏上的高度適當(dāng)（2cm以下），使數(shù)字表和指針表的讀數(shù)值與注入的已知電量相符

4. 鎖定設(shè)置：細(xì)調(diào)旋鈕的位置在校準(zhǔn)后不得再變動，須保持與校正時相同

5. 拆除校準(zhǔn)器：校正完成后必須摘除校正方波發(fā)生器與試驗(yàn)回路的連接，以免在高壓試驗(yàn)時被擊穿

背景噪聲測量

在試品不放電或試品未接入的條件下，施加試驗(yàn)電壓至額定值，記錄背景噪聲水平。背景噪聲應(yīng)低于關(guān)注的放電量閾值（建議≤20pC）。合格試驗(yàn)系統(tǒng)的本底局放量應(yīng)≤5pC。

升壓測量與PDIV確定

1. 接通高壓試驗(yàn)回路電源，零標(biāo)開關(guān)置于“通”位置

2. 從遠(yuǎn)低于預(yù)期PDIV的電壓開始升壓，升壓速率均勻（推薦0.5~1 kV/s）

3. 緩緩升高試驗(yàn)電壓，橢圓上出現(xiàn)兩個零標(biāo)脈沖

4. 旋轉(zhuǎn)“橢圓旋轉(zhuǎn)”開關(guān)，使橢圓旋轉(zhuǎn)至有利于觀測放電的位置

5. 連續(xù)升高電壓，觀察首次出現(xiàn)的持續(xù)放電

6. PD起始電壓（PDIV）：當(dāng)放電量首次超過規(guī)定閾值（如50pC）時的試驗(yàn)電壓值

持續(xù)加壓測量

1. 升至規(guī)定的試驗(yàn)電壓（出廠試驗(yàn)通常為1.5~2倍額定電壓；預(yù)防性試驗(yàn)可按1.2~1.5倍額定電壓）

2. 維持規(guī)定時間（通常1~5分鐘）

3. 觀察并記錄：最大放電量（Qmax）、放電脈沖重復(fù)率、PRPD圖譜特征

放電量讀數(shù)方法：當(dāng)顯示屏上放電脈沖高度在0.2~2cm之間（數(shù)字表讀數(shù)有效數(shù)字不超過120.0）時，數(shù)字表頭的讀數(shù)乘以或除以粗調(diào)開關(guān)換檔倍率，即為放電量值。數(shù)字表頭滿度值為100，超過即過載，應(yīng)撥動增益粗調(diào)開關(guān)轉(zhuǎn)換到低增益檔。

降壓測量與PDEV確定

以相同速率逐步降壓，記錄放電脈沖首次持續(xù)低于規(guī)定閾值時的電壓值，即為PD熄滅電壓（PDEV）。需要注意的是，PDIV可能受電壓上升速率影響，而PDEV可能受施加電壓的幅值、持續(xù)時間和電壓下降速率影響。

報(bào)告生成

武漢市合眾電氣局部放電測試系統(tǒng)支持自動生成試驗(yàn)報(bào)告，顯示試驗(yàn)數(shù)據(jù)和升壓曲線圖，可連接打印機(jī)打印A4紙報(bào)告。報(bào)告應(yīng)包含：試品標(biāo)識、環(huán)境條件、試驗(yàn)電路、校準(zhǔn)記錄、PDIV/PDEV值、各電壓等級下的最大放電量、PRPD圖譜及結(jié)論。

關(guān)鍵參數(shù)與合格判定

放電量限值

電機(jī)類型/工況	合格限值
高壓電機(jī)出廠試驗(yàn)	≤50pC
運(yùn)行中電機(jī)預(yù)防性試驗(yàn)	≤100pC（需扣除背景噪聲）
系統(tǒng)本底局放	≤5pC（HZJF124-25kVA/250kV系統(tǒng)指標(biāo)）

PRPD圖譜診斷

通過觀察橢圓時基上的放電脈沖位置和分布特征，可初步判斷缺陷類型：

• 內(nèi)部放電：放電脈沖對稱出現(xiàn)在正負(fù)半周峰值附近，呈“跑兔耳”狀

• 表面放電：放電脈沖相位略偏移，分散性較大

• 電暈放電：放電脈沖出現(xiàn)在電壓峰值附近，窄而孤立

PDIV/PDEV比值分析

某些絕緣中當(dāng)電壓一次升至PDIV時只會間歇地發(fā)生局部放電；一些情況下，放電量迅速上升，而當(dāng)電壓維持一段時間后，放電會消失。若PDEV遠(yuǎn)低于PDIV（如<0.6倍），提示可能存在嚴(yán)重缺陷。